SEMICON Korea 2018
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EPD / OES
NANOTECH Inc.
(
Booth
C637
)
반도체/디스플레이 제조 공정 챔버 내부의 Plasma를 분광 분석법으로 분석하여 공정의 종료점을 자동 검출하거나 공정의 변화 상태를 모니터링하는 센서입니다.
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