SEMICON Korea 2018
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Tiple Ion Beam Milling System Leica EM TIC 3X
Leica Microsystems Ltd. Korea
(
Booth
B500
)
세 개의 이온 빔을 이용한 최적의 시료 단/표면 처리 시스템 Ion Beam Milling system 을 직접 체험해 보십시오.
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